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 Development of Frequency-Mixed Point-Focusing Shear Horizontal Guided-Wave EMAT for Defect Inspection Using Deep Neural Network 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Hongyu Sun; Lisha Peng; Shen Wang; Songling Huang; Kaifeng Qu 出版日期：2020-11-03 |
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