| 标题 |
Analyzing switching variability of SiNx-based RRAM in terms of Joule heating dissipation 基于SiNx的RRAM的焦耳散热特性分析
相关领域
焦耳加热
电阻随机存取存储器
消散
材料科学
焦耳(编程语言)
焦耳效应
光电子学
工程物理
物理
热力学
电气工程
电压
复合材料
工程类
功率(物理)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Yiwei Duan; Haixia Gao; Yintang Yang 出版日期:2024-10-21 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|