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 Correlation between low-frequency noise and interface traps of fully-depleted silicon-on-insulator tunneling FETs induced by hot carrier stress 相关领域
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Hyun-Jin Shin; Hyun-Dong Song; Hyeong-Sub Song; Sunil Babu Eadi; Hyun-Woong Choi; et al 出版日期：2020-09-16 |
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