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![]() 交流电迁移条件下SAC焊料互连失效及组织演变的研究
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期刊:2022 IEEE 72nd Electronic Components and Technology Conference (ECTC) 作者:Yi Ram Kim; Allison T. Osmanson; Choong-Un Kim; Patrick Thompson; Qiao Chen 出版日期:2022-05-01 |
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