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A method for measuring and calibrating the thickness of thin films based on infrared interference technology 一种基于红外干涉技术的薄膜厚度测量与标定方法
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期刊:Results in physics 作者:Jiaxing Sun; Xinyu Li; Haojie Zhang; Jinlong Song; Zhisong Li 出版日期:2023-07-11 |
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