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 Enhancing gate turn-off thyristor blocking characteristics by low temperature defect passivation technology 利用低温缺陷钝化技术增强栅极关断晶闸管阻塞特性
相关领域
晶闸管
阻塞（统计）
钝化
集成门极换流晶闸管
MOS控制晶闸管
阻塞效应
门极关断晶闸管
材料科学
光电子学
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电气工程
工程物理
纳米技术
电压
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晶体管
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Peiyu Wu; Min-Chen Chen; Ting‐Chang Chang; Haimei Zheng; Fu‐Yuan Jin; et al 出版日期：2021-06-15 |
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