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The Impact of X-Ray and Proton Irradiation on ${\rm HfO}_2/{\rm Hf}$-Based Bipolar Resistive Memories |
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:J. S. Bi; Z. S. Han; E. X. Zhang; M. W. McCurdy; R. A. Reed; et al 出版日期:2014-01-03 |
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