| 标题 |
Inhibitor-free area selective atomic layer deposition of SiO2 thin films by in situ surface cleaning using isotropic SiO2 selective removal 相关领域
原子层沉积
材料科学
氟
薄膜
蚀刻(微加工)
沉积(地质)
吸附
薄脆饼
图层(电子)
硅烷
化学工程
氧气
化学气相沉积
硅
选择性
原位
纳米技术
化学机械平面化
氢
分析化学(期刊)
各向同性腐蚀
金属
透射电子显微镜
湿法清洗
远程等离子体
表面改性
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of the Korean Physical Society 作者:Min Su Kim; Hyun Gu Kim; So Myeong Shin; Byungchul Cho; Juhwan Park; et al 出版日期:2025-09-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)