| 标题 |
Cause Analysis of Aging Ablation on Sheath of 110 kV Single Core High Voltage Cable |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2019 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) 作者:Yue Xin; Lei Jiang; Xiyuan Zhao; Wenbin Li; Jinghui Gao; et al 出版日期:2020-02-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)