| 标题 |
High thermal reliability study of copper-based β -Ga 2 O 3 Schottky diodes with thin Al 2 O 3 insertion layers 相关领域
肖特基二极管
透射电子显微镜
肖特基势垒
热稳定性
光电子学
泄漏(经济)
二极管
扫描电子显微镜
反向漏电流
薄膜
热的
分析化学(期刊)
整改
电流密度
图层(电子)
活动层
衍射
电极
扩散阻挡层
导电原子力显微镜
材料科学
光谱学
扫描透射电子显微镜
显微镜
光学显微镜
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Micro and nanostructures 作者:Fei Cao; Xuezhen Wang; Wanzhao Cui; Lei Yao; Yanxing Song; et al 出版日期:2025-10-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)