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 A new finding on NBTI lifetime model and an investigation on NBTI degradation characteristic for 1.2nm ultra thin oxide 1.2 nm超薄氧化物NBTI寿命模型的新发现及NBTI降解特性的研究
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负偏压温度不稳定性
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期刊： 作者：Chia Lin Chen; Yu‐Min Lin; C.j. Wang; Kuo-Chen Wu 出版日期：2005-08-16 |
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