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 Current-induced degradation process in (In)AlGaN-based deep-UV light-emitting diode fabricated on AlN/sapphire template AlN/蓝宝石模板上AlGaN基深紫外发光二极管的电流诱导退化过程
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期刊：Optical Materials 作者：Pradip Dalapati; Kosuke Yamamoto; Takashi Egawa; Makoto Miyoshi 出版日期：2020-09-08 |
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