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 Defect characterization of {101¯3} GaN by electron microscopy {101′3}GaN缺陷的电子显微镜表征
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Gunnar Kusch; Martin Frentrup; Nan Hu; Hiroshi Amano; Rachel A. Oliver; et al 出版日期：2022-01-19 |
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