标题 |
![]() 退火温度对CeO2薄膜结构和磁性能的影响
相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
分析化学(期刊)
拉曼光谱
薄膜
退火(玻璃)
磁化
溅射沉积
扫描电子显微镜
溅射
核磁共振
化学
纳米技术
光学
冶金
磁场
复合材料
物理
色谱法
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Thin Solid Films 作者:Sumalin Phokha; Saksorn Limwichean; Mati Horprathum; Viyapol Patthanasettakul; Chanunthorn Chananonnawathorn; et al 出版日期:2020-04-19 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|