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  Finding Optimal Imaging Parameters for Measuring Long-Range Electric Fields with 4DSTEM by Utilizing STEM Multislice Simulations 利用STEM多切片模拟寻找4DSTEM测量远程电场的最佳成像参数
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Damien Heimes; Andreas Beyer; Shamail Ahmed; Varun Chejarla; Kerstin Volz 出版日期：2022-07-22 |
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