Fundamental aspects of HfO 2 -based high-k metal gate stack reliability and implications on t inv -scaling

已完结

文献求助详情

标题	Fundamental aspects of HfO 2 -based high-k metal gate stack reliability and implications on t inv -scaling
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/6123666/6131464/06131579...
DOI	10.1109/iedm.2011.6131579 doi
其它	期刊：2011 International Electron Devices Meeting 作者：E. Cartier; A. Kerber; T. Ando; M. M. Frank; K. Choi; et al 出版日期：2012-01-19
求助人	很难过在 2026-05-26 14:51:16 发布自湖南，悬赏 10 积分
下载	该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。

上个求助

提交工单

该求助已完结，感谢关注

如需该文献，请重新发布求助，前往发布

科研通，让科研之路畅通无阻

请遵守相关知识产权规定，勿将文件分享给他人，仅可用于个人研究学习

我的文献求助列表浏览历史

一分钟了解求助规则 | 捐赠本站 | 历史今天

更新

⚡ 2026年影响因子、分区 已更新！ (2026-6-17)

更新

📰 新增『新锐期刊分区』 (2026-3-24)

更新

💬 新增更精细的自定义提醒设置 (2026-1-4)

新增

🕒 每天60秒读懂世界·精选全球要闻 (2026-1-2)

新增

PDF的下载单位、IP信息已删除 (2025-6-4)

科研通是完全免费的文献互助平台，具备全网最快的应助速度，最高的求助完成率。对每一个文献求助，科研通都将尽心尽力，给求助人一个满意的交代。

实时播报: zl完成签到，获得积分10

刚刚; NexusExplorer上传了应助文件

1秒前; ding上传了应助文件

2秒前; JamesPei上传了应助文件

2秒前; Eliauk完成签到，获得积分10

2秒前; 心尘完成签到，获得积分10

2秒前; xzn1123关闭了乌拉乌拉的文献求助

4秒前; zero发布了新的文献求助10

5秒前; 桑尼完成签到，获得积分10

5秒前; 东东发布了新的文献求助10

6秒前; good6821发布了新的文献求助10

6秒前; 顺心小凝完成签到，获得积分10

7秒前; 爆米花上传了应助文件

9秒前; 斯文败类上传了应助文件

9秒前; 桐桐上传了应助文件

12秒前; ontheway发布了新的文献求助10

12秒前; 希望天下0贩的0的应助被mqh采纳，获得10

13秒前; 和谐灵槐完成签到，获得积分10

13秒前; 英姑的应助被饺子采纳，获得30

13秒前; xuerkk发布了新的文献求助10

14秒前; 科研通AI6.4的应助被linqishi采纳，获得10

15秒前; xzn1123关闭了WSH的文献求助

15秒前; zenith968完成签到，获得积分10

16秒前; molihuakai上传了应助文件

17秒前; KaK发布了新的文献求助10

18秒前; 十一完成签到，获得积分10

18秒前; 粗心的灭绝完成签到，获得积分10

20秒前; fpc发布了新的文献求助10

21秒前; xuerkk完成签到，获得积分10

22秒前; 科研通AI6.4上传了应助文件

22秒前; ZYQ完成签到，获得积分10

22秒前; ding的应助被王先进采纳，获得10

22秒前; 赵祎鹤完成签到，获得积分10

22秒前; 脆弱的刺猬上传了应助文件

23秒前; 吴彦祖发布了新的文献求助10

23秒前; 海岸线完成签到，获得积分10

23秒前; 烟花的应助被努力的土豆泥采纳，获得10

23秒前; 粗心的蜻蜓发布了新的文献求助30

24秒前; Nole的应助被chiyuyou采纳，获得10

24秒前; 熊振康的应助被chiyuyou采纳，获得10

24秒前