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Nondestructive measurement of terahertz optical thin films by machine learning based on physical consistency 基于物理一致性的机器学习无损测量太赫兹光学薄膜
相关领域
太赫兹辐射
光学
材料科学
一致性(知识库)
太赫兹光谱与技术
薄膜
无损检测
折射率
计算机科学
物理
人工智能
纳米技术
量子力学
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期刊:Optics Express 作者:Ziwei Ming; Defeng Liu; Long Xiao; Le Yang; Yuehuan Cheng; et al 出版日期:2024-04-08 |
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