| 标题 |
Tolerable patterning in nanoimprint lithography by one-pass breakthrough etching of residual layer and spin-on-glass 相关领域
抵抗
蚀刻(微加工)
材料科学
纳米压印光刻
图层(电子)
平版印刷术
光电子学
残余物
干法蚀刻
互连
纳米光刻
纳米技术
反应离子刻蚀
光刻胶
铜互连
制作
计算机科学
病理
医学
替代医学
计算机网络
算法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Kenta Suzuki; Tetsuya Ueda; Hiroshi Hiroshima; Masanaga Fukasawa; Yuji Kasashima; et al 出版日期:2025-01-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|