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Advances on the application of ceria nanoparticles in dielectric layer CMP and post-cleaning: structural control, modification strategies, and mechanistic studies 相关领域
材料科学
化学机械平面化
Zeta电位
纳米技术
磨料
吸附
表面粗糙度
纳米颗粒
表面改性
抛光
电介质
色散(光学)
介孔材料
介孔二氧化硅
粒子(生态学)
化学工程
表面光洁度
粒径
烧结
过程(计算)
半导体
图层(电子)
半导体器件制造
复合材料
纳米复合材料
兴奋剂
弹性(物理)
金属
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Wenyue Qi; Jiaji Geng; Baimei Tan; Fangyuan Wang; Xinyu Zhao; et al 出版日期:2026-05-05 |
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