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Oxidation differences on Si- versus C-terminated surfaces of SiC during planarization in the fabrication of high-power, high-frequency semiconductor device 高功率、高频半导体器件制造中平坦化过程中SiC与C端接表面的氧化差异
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期刊:Scientific Reports 作者:Ganggyu Lee; Yeram Lee; Sungmin Kim; Donghwan Kim; Hongjun Park; et al 出版日期:2023-12-21 |
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