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 Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects 从MOSFET晶体管电离辐射效应中的噪声事件中识别单事件瞬态（组）的无监督机器学习应用
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：P.R.P. Allegro; D. L. Toufen; Vitor A. P. Aguiar; Lucas S. A. dos Santos; William N. de Oliveira; et al 出版日期：2023-01-30 |
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