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![]() 基于电子封装结构热应力耦合分析的焊点可靠性设计方法
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期刊:Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 作者:Kenji Hirohata; Katsumi Hisano; Hiroyuki Takahashi; Minoru MUKAI; Takashi Kawakami; et al 出版日期:2006-01-01 |
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