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Controlled orientation of molecular-beam-epitaxial BaTiO3on Si(001) using thickness engineering of BaTiO3and SrTiO3buffer layers 利用BaTiO3和SrTiO3缓冲层厚度工程控制分子束外延BaTiO3在Si(001)上的取向
相关领域
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领域(数学分析)
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期刊:Applied Physics Express 作者:Min‐Hsiang Mark Hsu; Dries Van Thourhout; Marianna Pantouvaki; Johan Meersschaut; Thierry Conard; et al 出版日期:2017-05-16 |
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