| 标题 |
Quantitative Amplitude and Phase Imaging with Interferometric Plasmonic Microscopy 干涉等离子体显微镜定量振幅和相位成像
相关领域
等离子体子
显微镜
材料科学
干涉测量
表面等离子共振
纳米尺度
光学
折射率
相(物质)
表面等离子体子
纳米光子学
表征(材料科学)
近场扫描光学显微镜
纳米技术
光学显微镜
光电子学
纳米颗粒
扫描电子显微镜
化学
物理
有机化学
复合材料
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ACS Nano 作者:Yuting Yang; Chunhui Zhai; Qiang Zeng; Ab Lateef Khan; Hui Yu 出版日期:2019-11-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)