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STT-MRAM Stochastic and Defects-aware DTCO for Last Level Cache at Advanced Process Nodes |
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期刊:ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) 作者:F. García-Redondo; S. Rao; M. Gupta; M. Perumkunnil; Y. Xiang; et al 出版日期:2023 |
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