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  Analysis of resistive defects on a foundry 8T SRAM-based IMC architecture 相关领域
电阻式触摸屏
静态随机存取存储器
瓶颈
冯·诺依曼建筑
计算机科学
端口（电路理论）
电子工程
绝缘体上的硅
嵌入式系统
计算机硬件
工程类
材料科学
光电子学
操作系统
硅
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：L. Ammoura; Marie-Lise Flottes; P. Girard; Jean-Philippe Noël; A. Virazel 出版日期：2023-06-08 |
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