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Study of scaling effect of ferroelectric gate stack in planar InGaAs MOSFET 平面InGaAs MOSFET铁电栅堆叠的缩放效应研究
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跨导
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期刊:International Journal of Numerical Modelling Electronic Networks Devices and Fields 作者:Subir Kumar Maity; Arindam Basak; Himadri Sekhar Das 出版日期:2022-08-19 |
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