Degradation Analysis of 14 nm SOI FinFETs by Influence of Hot Carrier Injection and Self-Heating Synergistic Effects

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标题	Degradation Analysis of 14 nm SOI FinFETs by Influence of Hot Carrier Injection and Self-Heating Synergistic Effects 热载流子注入和自加热协同效应对14 nm SOI FinFETs退化的影响
网址	https://doi.org/10.1109/TDMR.2025.3590371
DOI	10.1109/TDMR.2025.3590371 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Zhaohui Qina; Lei Dong; Lan Chen; Renjie Lu; Rong Chen; Yali Wang 出版日期：2025
求助人	大道酬勤在 2025-09-03 20:23:16 发布自贵州，悬赏 10 积分
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