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Leakage Control in 0.4-nm EOT Ru/SrTiO<sub><italic>x</italic></sub>/Ru Metal-Insulator-Metal Capacitors: Process Implications 相关领域
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Johan Swerts; Mihaela Popovici; Ben Kaczer; Marc Aoulaiche; Augusto Redolfi; et al 出版日期:2014-05-24 |
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