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 Investigation of the Memory Operations in the 3D NAND Flash with More Realistic Geometry with Wavey Channel in the Tapered Channel Hole 相关领域
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期刊：Journal of Electrical Engineering & Technology 作者：Hyun-Seo Oh; Yun-Jae Oh; H. So; Jueun Kim; Soo-Min Kim; et al 出版日期：2025-02-26 |
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