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 Characterization and modeling of Al/sub 2/O/sub 3/ MIM capacitors: temperature and electrical field effects 相关领域
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期刊：Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005. 作者：S. Becu; S. Cremer; O. Noblanc; J.-L. Autran; P. Delpech 出版日期：2005-12-14 |
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