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Improved drain lag by reduced surface current in GaN HEMT via an ultrathin HfO2 blanket layer 通过超薄HfO2覆盖层降低GaN HEMT中的表面电流改善漏极滞后
相关领域
材料科学
光电子学
高电子迁移率晶体管
原子层沉积
晶体管
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Burak Güneş; Amir Ghobadi; Oğuz Odabaşı; Bayram Bütün; Ekmel Özbay 出版日期:2023-04-12 |
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