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Solving bump bonding issues with 2.0 mil copper wire: A study on FSM integration and workability improvements 用2.0密耳铜线解决凸点键合问题:FSM集成和可加工性改进的研究
相关领域
铜
引线键合
材料科学
结构工程
计算机科学
工程类
机械工程
工程制图
冶金
电气工程
炸薯条
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| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Hsiao Chuan Yen; Fang‐I Lai 出版日期:2025-02-20 |
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(2025-6-4)