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X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy characterization of sulfurized tin thin films deposited by thermal evaporation |
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期刊:Thin Solid Films 作者:Hiroto Oomae; Takahito Eguchi; Kunihiko Tanaka; Misao Yamane; Naofumi Ohtsu 出版日期:2018 |
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(2025-6-4)