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GaN damage-free cyclic etching by sequential exposure to Cl2 plasma and Ar plasma with low Ar+-ion energy at substrate temperature of 400 °C 在400℃的衬底温度下连续暴露于具有低Ar+-离子能量的Cl2等离子体和Ar等离子体的GaN无损伤循环蚀刻
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Shohei Nakamura; Atsushi Tanide; Takahiro Kimura; Soichi Nadahara; Kenji Ishikawa; et al 出版日期:2023-01-24 |
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