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 Understanding the Degeneration of Neurons From NbOx-Based Threshold Device by an Unhappy Environment 了解基于NbOx的阈值装置在不愉快环境下的神经元变性
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Ao Chen; Zhennan Lin; Guokun Ma; Rui Xiong; Qiming Liu; Hao Wang 出版日期：2024-03-15 |
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