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Resonant optical phase imaging of lateral transition metal dichalcogenides heterostructure junctions with sub-micron width as high-throughput inspection |
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期刊:Current applied physics 作者:Ju Young Kim; Yoojoong Han; F. Nugera; H. R. Gutierrez; Un Jeong Kim; et al 出版日期:2026-05-01 |
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(2025-6-4)