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Low-Temperature NiSi Formation via Microwave Annealing for Stable Metal-Induced Lateral Crystallization in 3D NAND Flash Memory 相关领域
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期刊:2025 Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 作者:Ohhyuk Kwon; Sunhyeong Lee; Jongseon Seo; Geonhui Han; Dongmin Kim; et al 出版日期:2025-06-08 |
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