Characterization of alterations on power MOSFET devices under extreme electro-thermal fatigue

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标题	Characterization of alterations on power MOSFET devices under extreme electro-thermal fatigue
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2010.07.065
DOI	10.1016/j.microrel.2010.07.065 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：D. Martineau; T. Mazeaud; M. Legros; Ph. Dupuy; C. Levade 出版日期：2010
求助人	拿铁不加甜甜在 2026-03-18 12:55:38 发布自安徽，悬赏 10 积分
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