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 Quantification of Ag/Ni Auger electron spectroscopy depth profiles upon preferential sputtering with non-stationary roughness 非平稳粗糙度优先溅射Ag/Ni俄歇电子能谱深度分布的量化
相关领域
溅射
俄歇电子能谱
分析化学（期刊）
表面光洁度
表面粗糙度
化学
材料科学
光谱学
螺旋钻
薄膜
冶金
原子物理学
复合材料
纳米技术
物理
色谱法
量子力学
核物理学
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| DOI | |
| 其它 | Songyou Lian a b, H. Yang c, Janez Kovac d, Jacobus J. Terblans a, Jiangyong Wang b e, Hendrik C. Swart a, Congkang Xu b e |
| 求助人 | |
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