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Thermal Characterization and Design of AlN/GaN/AlN HEMTs on Foreign Substrates |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Seokjun Kim; Eungkyun Kim; Husam Walwil; Daniel C. Shoemaker; Jimy Encomendero; et al 出版日期:2025-05-01 |
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(2025-6-4)