| 标题 |
Directly measuring the structural transition pathways of strain-engineered VO 2 thin films |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Nanoscale 作者:Egor Evlyukhin; Sebastian A. Howard; Hanjong Paik; Galo J. Paez; David J. Gosztola; et al 出版日期:2020-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)