Investigation of Hot Carrier Injection During GIDL Erase Operation in 3-D NAND Flash Memory

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标题	Investigation of Hot Carrier Injection During GIDL Erase Operation in 3-D NAND Flash Memory
网址	https://doi.org/10.1109/TED.2026.3651215
DOI	10.1109/TED.2026.3651215 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Jae Hyun Nam; Jin Ho Chang; Kyung Moon Kim; Jin Wook Lee; Da Eun Yang; et al 出版日期：2026
求助人	Stephendo 在 2026-03-31 17:15:52 发布自浙江，悬赏 10 积分
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