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In-situ quantification of the surface roughness for facile fabrications of atomically smooth thin films 相关领域
反射高能电子衍射
材料科学
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期刊:Nano Research 作者:Genhao Liang; Long Cheng; Junkun Zha; Hui Cao; Jingxian Zhang; et al 出版日期:2021-08-12 |
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