| 标题 |
 Microscopic residual stress evolution during deformation process of an FeMnSiCr shape memory alloy investigated using white X-ray microbeam diffraction 相关领域
微束
材料科学
残余应力
马氏体
奥氏体
变形（气象学）
衍射
压力（语言学）
合金
微观结构
电子背散射衍射
极限抗拉强度
复合材料
冶金
形状记忆合金
无扩散变换
光学
语言学
物理
哲学
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期刊：Materials Science and Engineering A 作者：Eui Pyo Kwon; Shigeo Sato; Shun Fujieda; Kōzō Shinoda; K. Kajiwara; et al 出版日期：2013-02-05 |
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