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  Analyze Scalable Sudoku-Type DTSCR ESD Protection Array Structures in 22nm FDSOI 分析22nm FDSOI中可扩展数独型DTSCR ESD保护阵列结构
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期刊：IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者：Cheng Li; Feilong Zhang; Chenkun Wang; Zijin Pan; Mengfu Di; et al 出版日期：2021-01-01 |
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