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 Statistical Analysis of Power Semiconductor Devices Lifetime Test and Lifetime Prediction 功率半导体器件寿命测试与寿命预测的统计分析
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期刊：IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者：Xia Zhou; Zhicheng Xin; Zan Wu; Kuang Sheng 出版日期：2024-01-01 |
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