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The Impact of Hot Carrier Injection-Induced Device Degradation for Lower-Power FinFETs 相关领域
跨导
材料科学
光电子学
阈值电压
降级(电信)
电气工程
电压
晶体管
工程类
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| 其它 |
期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Yulin Chen; Wen‐Kuan Yeh; Heng‐Tung Hsu; Ke‐Horng Chen; Der‐Hsien Lien; et al 出版日期:2022-12-07 |
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