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  Fast cut-off, low I2T and high temperature monolithic on-chip fuse on silicon substrate for new fail-safe embedded power switch 用于新型故障安全嵌入式功率开关的硅衬底上快速截止、低I2T和高温单片片上熔丝
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Amirouche Oumaziz; Emmanuel Sarraute; Frédéric Richardeau; Abdelhakim Bourennane; Céline Combettes; et al 出版日期：2021-10-11 |
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