| 标题 |
 Evaluation of the effect of surface roughness on thin film thickness measurements using variable angle XPS 相关领域
覆盖层
X射线光电子能谱
表面粗糙度
材料科学
表面光洁度
薄膜
基质（水族馆）
曲面（拓扑）
光学
航程（航空）
分析化学（期刊）
复合材料
化学
纳米技术
几何学
凝聚态物理
核磁共振
物理
数学
海洋学
地质学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Surface Science 作者：Yixin Yan; Martin A. Helfand; C.R. Clayton 出版日期：1989-08-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
DW
无极微光
Nole
然宝
aaaa
秋风
学术文献互助
sagitar
Kao
水煮电吹风
adasd
单纯大侠
xing_xing
dde
v0id
2052669099
随风沙ZYX
忧郁青亦
My_magnum_opus
皖公网安备34019202002308
